IT/ASIC | FPGA 2016. 2. 26.
[반도체] ESD Test - HBM,MM,CDM 자료 모음
ESD Test - HBM,MM,CDM 관련 자료 모음 국내의 유명한 Faliunx 포럼의 글 중에.. (원본글 : ESD 정전기에 의한 반도체 불량) 하나-HBM (Human Body Model) 인체에 대전된 정전기 방전 수천 ~ 수만V 까지 대전된 작업자가 부품에 접촉하는 경우 정전기가 순간적으로 방전되어 수 KW의 전력이 흐르면서 부품을 파괴하게 됨 두울-CDM (Charged Device Model) 부품에 대전된 정전기 방전 부품의 운반, 보관, 취급 등의 과정에서 접촉성 대전이 이루어져 부품이 정전압을 유지하고 있다가 접지에 접촉되어 순간적으로 방전을 일으켜 파괴하게 됨. 세엣-FIM (Field Induced Model) 정전기장에 대전된 부품의 방전 전,자기장에 노출된 부품에서 IC 내부..