관련글 링크
2016/02/26 - [IT/ASIC | FPGA] - [반도체] ESD Test - HBM,MM,CDM 자료 모음
2017/07/18 - [IT/ASIC | FPGA] - ASIC, SoC, 반도체, 설계 관련 글 모음
EOS 와 ESD 에 대한 기초지식 네이버 블로그 검색으로 해결~
http://blog.naver.com/bkpark777/80164645562
EOS(electriocal overstress : 전기적 과부하)의 일반 용어로 볼 수 있고, EOS는 번개(lightning), 전기자기파(EMP), 정전기방전(ESD), 시스템 과도전류(STP)를 포함하는 개념이므로 ESD는 EOS의 부분집합 관계라 할 수 있다.
1. EMI(ElectroMagnetic interference) : 전자파 방해(간섭)
- EMC 전자파 양립성은 EMI, EMS로 나뉩니다. EMI는 전자파를 발생하여 타기기에 영향을 미치는것이고, EMS(전자파 내성)는 타기기에서 발생된 전자파에 의해서 대상기기가 영향을 미치는것 입니다.
2. ESD(ElectroStatic Discharge) : 정전 방전 (정전기 방출)
- 정전기에 의한 기기의 영향을 평가합니다.
3. SAR(Specific Absorption Rate) : 전자파 흡수율
짤은 스트레스..https://pixabay.com/en/stress-stressed-frayed-torn-pulled-2061408/
'IT > ASIC | FPGA' 카테고리의 다른 글
Temperature inversion (0) | 2017.05.26 |
---|---|
Process-Voltage-Temperature (PVT) Variations and Static Timing Analysis (0) | 2017.05.26 |
[Tool] ANSYS PathFinder (0) | 2017.05.25 |
[기초] Layout effect - WPE, PSE, LOD, OSE, LPC (0) | 2017.03.31 |
[기초] What is Tape out? (0) | 2017.03.31 |