불량분석 (Failure Analysis) EOS Test, I-V Curve - 반도체 테스트

FA, EOS Test, I-V Curve, 불량분석(Failure Analysis) - 반도체 테스트 물건을 팔면 다가 아니다. 여기저기 시장에서 불량이라고 분석을 요구하는 곳이 엄청나게 많다. 일일이 다 대응해 줄 수 있는 것은 아니지만, 리포트를 요구하는 업체들이 있으면 상당히 곤란하다. 중소기업의 경우, 어쩔 수 없이 외부 업체에 의뢰를 맡길 수 밖에 없다. 아래에 소개된 Microchip의 경우를 보면 이 과정을 위해 Lab을 따로 마련하고 있어, 과정이 표준화 되어 있고 대응일정이 비교적 명확하다. (부러움 ^^;;;) 무튼, 대부분의 문제를 EOS 문제로 생각하고 대응하게 되는데, 테스트 (Electrical Overstress)는 반도체 부품, 회로에 초과된 전자기적 신호 및 과전압에 의해..