구글 검색 후 기술자료 모음
정전기 방전 손상모델및 시험방법정전기 방전 손상모델및 시험방법 - ESD 반도체 테스트 자료
전파기술원 2011.03 뉴스레터
자료 중 발췌된 내용
LG전자 정전기 교육 자료
2001 년도 자료로 연식이 좀 되었는데, 이쪽 기술이 고만고만해요.. 왜 발전이 느린지
회로내의 과전압,과전류(Surge)로 인한 IC 파괴 대부분의 IC불량 유형임
기타 기사들
그리고, 검색된 좋은 기사도 여기에 저장.
[SMT와 ESD 제어 기술 4] EOS/ESD 불량 분석, 이렇게 해결하라
[SMT와 ESD 제어 기술 4] EOS/ESD 불량 분석, 이렇게 해결하라
[SMT와 ESD 제어 기술 4] EOS/ESD 불량 분석, 이렇게 해결하라
www.hellot.net
'IT > ASIC | FPGA' 카테고리의 다른 글
| Xilinx JTAG – HS2, HS3, Platform Cable USB II (0) | 2024.01.25 |
|---|---|
| 불량분석 (Failure Analysis) EOS Test, I-V Curve - 반도체 테스트 (0) | 2019.11.18 |
| [HDL] Test Bench 작성가이드 in Verilog (0) | 2019.04.25 |
| 반도체, 칩이 만들어 지는 과정 (0) | 2019.04.25 |
| (2018)[IDEC 연구원 교육] Cell-Based 설계 Flow 교육 (0) | 2018.11.28 |
