IT/ASIC | FPGA 2019. 11. 18.
불량분석 (Failure Analysis) EOS Test, I-V Curve - 반도체 테스트
FA, EOS Test, I-V Curve, 불량분석(Failure Analysis) - 반도체 테스트 물건을 팔면 다가 아니다. 여기저기 시장에서 불량이라고 분석을 요구하는 곳이 엄청나게 많다. 일일이 다 대응해 줄 수 있는 것은 아니지만, 리포트를 요구하는 업체들이 있으면 상당히 곤란하다. 중소기업의 경우, 어쩔 수 없이 외부 업체에 의뢰를 맡길 수 밖에 없다. 아래에 소개된 Microchip의 경우를 보면 이 과정을 위해 Lab을 따로 마련하고 있어, 과정이 표준화 되어 있고 대응일정이 비교적 명확하다. (부러움 ^^;;;) 무튼, 대부분의 문제를 EOS 문제로 생각하고 대응하게 되는데, 테스트 (Electrical Overstress)는 반도체 부품, 회로에 초과된 전자기적 신호 및 과전압에 의해..
IT/ASIC | FPGA 2017. 5. 25.
[전자] EOS / ESD - 기초 지식
관련글 링크 2016/02/26 - [IT/ASIC | FPGA] - [반도체] ESD Test - HBM,MM,CDM 자료 모음 2017/07/18 - [IT/ASIC | FPGA] - ASIC, SoC, 반도체, 설계 관련 글 모음 EOS 와 ESD 에 대한 기초지식 네이버 블로그 검색으로 해결~ http://blog.naver.com/bkpark777/80164645562 ESD에 대해서 서지 (surge)와 ESD의 차이점이 뭔가요? ESD는 Electrostatic Discharge 의 약자로서 정전기를 방... blog.naver.com EOS(electriocal overstress : 전기적 과부하)의 일반 용어로 볼 수 있고, EOS는 번개(lightning), 전기자기파(EMP), 정전..
IT/ASIC | FPGA 2017. 5. 25.
[Tool] ANSYS PathFinder
ESD / EOS 관련 이야기가 막 나오니깐..패쓰파인더라는 툴이야기가 나오네. ESD는 기존의 관련 글 참고 : ESD Test - HBM,MM,CDM (http://ts.devbj.com/425)ANSYS (자회사 Apache) 에서 나오는 Pathfinder . 정보는 일단 간단한 코멘트와 저장을 해 두어야 나중에 가치가.https://www.apache-da.com/products/pathfinderANSYS PathFinder is an electrostatic discharge (ESD) planning, verification and sign-off solution for full-chip SoC and IP designs. It is applied in layout and circuit-l..
