IT/ASIC | FPGA 2019. 11. 18.
불량분석 (Failure Analysis) EOS Test, I-V Curve - 반도체 테스트
FA, EOS Test, I-V Curve, 불량분석(Failure Analysis) - 반도체 테스트 물건을 팔면 다가 아니다. 여기저기 시장에서 불량이라고 분석을 요구하는 곳이 엄청나게 많다. 일일이 다 대응해 줄 수 있는 것은 아니지만, 리포트를 요구하는 업체들이 있으면 상당히 곤란하다. 중소기업의 경우, 어쩔 수 없이 외부 업체에 의뢰를 맡길 수 밖에 없다. 아래에 소개된 Microchip의 경우를 보면 이 과정을 위해 Lab을 따로 마련하고 있어, 과정이 표준화 되어 있고 대응일정이 비교적 명확하다. (부러움 ^^;;;) 무튼, 대부분의 문제를 EOS 문제로 생각하고 대응하게 되는데, 테스트 (Electrical Overstress)는 반도체 부품, 회로에 초과된 전자기적 신호 및 과전압에 의해..
IT/ASIC | FPGA 2019. 11. 18.
정전기 방전 손상모델및 시험방법 - ESD 반도체 테스트 자료
구글 검색 후 기술자료 모음 정전기 방전 손상모델및 시험방법정전기 방전 손상모델및 시험방법 - ESD 반도체 테스트 자료 전파기술원 2011.03 뉴스레터 자료 중 발췌된 내용 LG전자 정전기 교육 자료 2001 년도 자료로 연식이 좀 되었는데, 이쪽 기술이 고만고만해요.. 왜 발전이 느린지 회로내의 과전압,과전류(Surge)로 인한 IC 파괴 대부분의 IC불량 유형임 기타 기사들 그리고, 검색된 좋은 기사도 여기에 저장. [SMT와 ESD 제어 기술 4] EOS/ESD 불량 분석, 이렇게 해결하라 [SMT와 ESD 제어 기술 4] EOS/ESD 불량 분석, 이렇게 해결하라 [SMT와 ESD 제어 기술 4] EOS/ESD 불량 분석, 이렇게 해결하라 www.hellot.net
IT/ASIC | FPGA 2017. 6. 2.
[Tool] Mentor Graphics - Calibre PERC (ESD check)
Mentor Graphics - Calibre PERC 뉴스레터의 내용인데, ㅋㅋ 어렵네~http://www.mentorkr.com/company/news20100113.htmlCalibre PERC 제품은 회로의 정전기 방전(ESD) 이벤트 보호 수준이 충분한지 확인하고 디자이너가 혼성신호 IC의 여러 파워 서플라이 간에 잘못된 연결이 있는지 손쉽게 확인할 수 있도록 하는 것을 비롯하여다양한 애플리케이션을 다룬다. Calibre PERC 제품은 ESD 검증 영역에서 제조 시 디바이스의 심각한결함을 유발하고 선적 및 어셈블리 과정에 디바이스가 쉽게 손상되도록 하고 현장에서 디바이스의 수명을떨어뜨리는 ESD 이벤트로부터 디바이스를 보호하는 데 필요한 회로의 완벽성을 확인한다. 또한 CalibrePERC 제..
IT/ASIC | FPGA 2017. 5. 25.
[전자] EOS / ESD - 기초 지식
관련글 링크 2016/02/26 - [IT/ASIC | FPGA] - [반도체] ESD Test - HBM,MM,CDM 자료 모음 2017/07/18 - [IT/ASIC | FPGA] - ASIC, SoC, 반도체, 설계 관련 글 모음 EOS 와 ESD 에 대한 기초지식 네이버 블로그 검색으로 해결~ http://blog.naver.com/bkpark777/80164645562 ESD에 대해서 서지 (surge)와 ESD의 차이점이 뭔가요? ESD는 Electrostatic Discharge 의 약자로서 정전기를 방... blog.naver.com EOS(electriocal overstress : 전기적 과부하)의 일반 용어로 볼 수 있고, EOS는 번개(lightning), 전기자기파(EMP), 정전..
IT/ASIC | FPGA 2017. 5. 25.
[Tool] ANSYS PathFinder
ESD / EOS 관련 이야기가 막 나오니깐..패쓰파인더라는 툴이야기가 나오네. ESD는 기존의 관련 글 참고 : ESD Test - HBM,MM,CDM (http://ts.devbj.com/425)ANSYS (자회사 Apache) 에서 나오는 Pathfinder . 정보는 일단 간단한 코멘트와 저장을 해 두어야 나중에 가치가.https://www.apache-da.com/products/pathfinderANSYS PathFinder is an electrostatic discharge (ESD) planning, verification and sign-off solution for full-chip SoC and IP designs. It is applied in layout and circuit-l..
IT/ASIC | FPGA 2016. 2. 26.
[반도체] ESD Test - HBM,MM,CDM 자료 모음
ESD Test - HBM,MM,CDM 관련 자료 모음 국내의 유명한 Faliunx 포럼의 글 중에.. (원본글 : ESD 정전기에 의한 반도체 불량) 하나-HBM (Human Body Model) 인체에 대전된 정전기 방전 수천 ~ 수만V 까지 대전된 작업자가 부품에 접촉하는 경우 정전기가 순간적으로 방전되어 수 KW의 전력이 흐르면서 부품을 파괴하게 됨 두울-CDM (Charged Device Model) 부품에 대전된 정전기 방전 부품의 운반, 보관, 취급 등의 과정에서 접촉성 대전이 이루어져 부품이 정전압을 유지하고 있다가 접지에 접촉되어 순간적으로 방전을 일으켜 파괴하게 됨. 세엣-FIM (Field Induced Model) 정전기장에 대전된 부품의 방전 전,자기장에 노출된 부품에서 IC 내부..
